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MICROTRAC微粒標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)BCR70 400326-001固定探測器

瀏覽次數(shù)：482發(fā)布日期：2024-01-29

美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上好的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，其先進(jìn)的激光粒度分析儀已廣泛應(yīng)用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷等領(lǐng)域，并成為眾多行業(yè)的質(zhì)量檢測和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術(shù)創(chuàng)新，近半個世紀(jì)以來，一直領(lǐng)頭著激光粒度分析的前沿技術(shù)，可靠的產(chǎn)品和強大的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，使得其不斷超越自我，推陳出新。麥奇克Microtrac以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨到見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究，開發(fā)出新一代Zetatrac微電場分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，Zetatrac采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需準(zhǔn)確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，重現(xiàn)性好。

主要產(chǎn)品：

激光粒度分析儀、電位分析儀、噴霧粒度分析儀、動態(tài)顆粒圖像分析儀

主要型號：

S3500、BELSORP MAX X、BELSORP MAX G、BELSORP MINI X、BELSORP MR 1、BELPREP VAC、BELCAT II、BELMASS II、BELPYCNO L、BELSOR HP、BELPORE系列、CAMSIZER 3D、CAMSIZER X2、CAMSIZAR XL、SYNC、AEROTRAC II、NANOTRAC FLEX、STABINO ZETA